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2025-09-17 09:34:22 文章来源：发布人：陈莉

图书简介：
本文件提供了使用适当的单层和多层参考物质优化溅射深度分析参数的指导和要求，以便优化俄歇电子能谱、X射线光电子能谱和二次离子质谱中的仪器设置，实现最佳深度分辨。本文件不涵盖特殊多层膜系（例如δ掺杂层）的使用。

价格： 43.00 元作者：

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